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Dissertação de Mestrado
Sistema experimental para medidas de espessura de filmes finos de Hidroxiapatita usando Elipsometria com Polarizadores Fixos

Data do cadastro: 15/07/2016

Publicação/Divulgação: 15/04/2016

Resp. pelo cadastro:

Orientador: Batista pd

Coorientador: -

Segundo Coorientador: -

Aluno: Ivana Mara Gomes Andersen Cavalcanti

Status atual: Defendida

Instituição de defesa: CBPF - Centro Brasileiro de Pesquisas Físicas

Resumo: O desenvolvimento de novas tecnologias baseadas em filmes finos de Hidroxiapatita beneficiam vários ramos da ciência, principalmente nas aplicações tecnológicas em geral e na área de saúde voltada ao uso clínico. A depender do processo de fabricação utilizado para a obtenção da Hidroxiapatita, suas propriedades apresentam características físico-químicas diferentes, permitindo maior abrangência do uso desta tecnologia. Desta forma, este trabalho tem como objetivo apresentar uma metodologia para o desenvolvimento de um sistema experimental de medidas, capaz de determinar a espessura de filmes de Hidroxiapatita. A metodologia é fundamentada na Técnica de Elipsometria com Polarizadores Fixos, que por sua vez, baseia-se na mudança da polarização da luz após incidir sobre um filme fino. A técnica consiste basicamente de dois polarizadores lineares, um fotodetector e uma fonte de luz: um laser de diodo que, juntamente com um Driver de Potência e um equipamento Lock-in, permitirão que o laser opere em modo pulsado com medidas de pequenas variações do sinal. Como primeira análise das espessuras dos filmes finos, foi utilizada a técnica de Reflectometria por Raios-X para os filmes finos de Hidroxiapatita, Ouro, Platina e Polianilina com espessuras diferenciadas. Os filmes foram depositados por dois equipamentos diferentes baseados na técnica de Sputtering - RAMS (filmes de Hidroxiapatita) e RFMS (filmes de Ouro e Platina) - e pela técnica de Spin Coating (filmes de Polianilina). O sistema experimental foi calibrado trabalhando-se na faixa linear da curva, com o objetivo de obter-se um valor de Sensibilidade Estática para cada material estudado, tendo sua definição compreendida como a inclinação da curva (coeficiente angular da reta). A flexibilidade da Elipsometria com Polarizadores Fixos torna esta tecnologia viável a inúmeras outras aplicações, como por exemplo, no desenvolvimento de sensores baseados em fenômenos óticos.

Área: Instrumentação Científica

Data da defesa: 15/04/2016

Banca: Batista pd; Jorlândio Francisco Felix; A. Mello


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